rohs检测仪ROHS荧光光谱仪工厂，ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。

应用领域：RoHS检测分析（电子电器、塑胶塑料、涂料油墨、通讯线缆、手机配件、胶粘制品、皮革纺织、儿童玩具等）

仪器的保养和清洁

1、表面与外壳的清洁。仪器可用微湿的抹布进行表面清洁，不可用碱性或酸性清洁剂，应使用中性清洁剂

2、内部与探测器的清洁，在清洁过程中，必须注意不要将异物掉入测试窗口中，测试窗口应该保持清洁，同时不能使用硬物接触测试窗口内，防止损伤探测器窗口和X光管窗口。(探测器窗口和X光管窗口损坏将不予保修，并且更换价格昂贵。因此，在清洁和使用中一定要小心爱护)。

3、开合盖子需要注意什么问题仪器上禁止摆放茶杯，重物等与测试无关的物品，以免污染或损伤仪器。

工作原理：

X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。

波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：

nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）

式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。

能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：

Q=kE

式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。

待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。

为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

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